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Zeiss Crossbeam 540

Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit zusätzlichem Ionenstrahl zur seriellen Abbildung der Blockoberfläche zwecks 3D-Rekonstruktion (Focussed Ion Beam SEM).

Standort: Gebäude I4, Ebene H0, Raum 1260